共用機器のご案内
共用機器一覧
豊富な知見(分析環境・評価条件のノウハウ)を活用した「構造解析システム」「物性解析システム」「組成分析システム」「微細加工システム」等の設備を1階の共用機器室に導入し、日常的に研究者が足を運び迅速な実用化を促すための環境を整備しています。各装置とも特殊な(あるいは特徴的な)機能を有し、他ではできない材料の分析・評価が可能になっています。
それぞれの機器をクリックすると、詳細をご覧いただけます。
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構造解析システム(ナノ構造等)
電界放出型走査電子顕微鏡システム
(FE-SEM)
機種名:JSM-7800F 日本電子製
設置場所:共用機器室1 -
組成分析システム
電界放出型電子プローブマイクロ
アナライザ
(FE-EPMA)
機種名:JXA-8530F 日本電子製
設置場所:共用機器室1 -
微細加工システム
FIB/SEM デュアルビームシステム
(FIB/SEM)
機種名:Helios NanoLab™ 600i FEI製
設置場所:共用機器室1 -
断面試料作製装置
クロスセクションポリッシャ
(CP)
機種名:IB-09020CP 日本電子製
設置場所:共用機器室1 -
物性解析システム
顕微可視赤外分光システム(FLIM)
機種名:NX-FLIM-TO3 東京インスツルメンツ製
設置場所:共用機器室2-1 -
組成分析システム
多機能走査型X線光電子分光分析装置
(XPS)
機種名:PHI-5000 VersaProbe Ⅱ アルバック・ファイ製
設置場所:共用機器室2-2 -
構造解析システム(結晶等)
多目的X線結晶構造解析システム
全自動水平型多目的X線回折装置
(多目的XRD)
機種名:SmartLab3G リガク製
設置場所:共用機器室3 -
構造解析システム(結晶等)
多目的X線結晶構造解析システム
微小結晶構造解析装置
(単結晶XRD)
機種名:VariMax DW with IP リガク製
設置場所:共用機器室3
前加工装置一覧
共用機器室には、サンプルの前加工設備を準備しております。
・当センターの共用機器利用に際し、サンプルの前加工が必要な場合にのみご使用いただけます。
・予約は不要ですので、設備の空き状況を確認してご使用ください。
・使用料金は無料です。(暫定試用期間のため)
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