共用機器のご案内
Shared equipment
共用機器のご案内
多目的X線結晶構造解析システム（多目的XRD)
構造解析システム（結晶等） 多目的X線結晶構造解析システム（多目的XRD)
全自動水平型多目的X線回折装置 (株)リガク製 SmartLab3G
装置概要（目的）
薄膜試料・粉末試料・バルク試料の構造解析
主な特徴及び用途
【特長】
- 集中法光学系と平行ビーム光学系の切り替えが容易。
- SmartLab Guidanceが、測定条件の設定・実行までをサポート。
【用途】
- 定性分析
- 薄膜評価
- 結晶性評価
- 配向評価
- 定量分析
- 粒径評価
- 応力評価
主な仕様
| X線発生部 | |
|---|---|
| 最大出力 | 3kV |
| 定格電圧 | 20～45kV |
| 定格電流 | 2～60mA |
| 方式 | 封入管式 |
| ターゲット | Cu |
| 焦点サイズ | 0.4×8mm （ライン/ポイントフォーカス） |
| 光学系部 | |
| 入射光学系 | CBO,自動幅制御入射スリット |
| 受光光学系 | 自動幅制御散乱スリット、自動幅制御受光スリット |
| 定格電流 | 2～60mA |
| ゴニオメータ部 | |
|---|---|
| スキャンモード | θs/θd連動、θs、θd単独 常時フィードバック制御 |
| ゴニオメータ半径 | 300nm |
| 最小ステップ角度 | 0.0001° |
| 3軸試料台 | χ：-5～＋95° Φ：0～360° Z：4～＋1mm |
| サンプルサイズ | 標準Φ100mm×3mm厚み |
| 検出部 | |
| 検出器 | シンチレーションカウンター D/Tex Ultra250 |
使用可能なオプション機能とオプションの目的
| 使用可能なオプション機能 | オプションの目的 |
|---|---|
| 使用可能なオプション機能：検出器（D/Tex Ultra250） | オプションの目的：高速かつ高感度分解能の測定 |
装置写真
クリックすると拡大してご覧いただけます。
システム全体
多目的XRD装置本体
装置内のX線回析装置
2013 © Material Solutions Center, Tohoku University. All rights.